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  • 華測儀器HCDH-3計算機控制優(yōu)質(zhì)耐電弧試驗儀
    華測儀器HCDH-3計算機控制優(yōu)質(zhì)耐電弧試驗儀

    更新時間:2024-12-31

    型號:

    瀏覽量:1880

    華測儀器HCDH-3計算機控制優(yōu)質(zhì)耐電弧試驗儀裝置適應于電機、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆、以及層壓板、覆銅箔板等絕緣材料等介質(zhì)的耐電弧測試;耐電弧試驗機采用計算機控制,試驗過程中可在線觀察試驗曲線;自動存儲試驗條件及試驗結果等數(shù)據(jù),并可存取、顯示、打印。
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  • Huace-300表面體積電阻率測試儀廠家-北京華測
    Huace-300表面體積電阻率測試儀廠家-北京華測

    更新時間:2024-12-12

    型號:Huace-300

    瀏覽量:2949

    表面體積電阻率測試儀廠家-北京華測儀器體積小、重量輕、本儀器具有jing度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點,既可測量高電阻,又可測微電流。
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  • HCJDCS-G電容器薄膜工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀
    HCJDCS-G電容器薄膜工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

    更新時間:2024-08-26

    型號:HCJDCS-G

    瀏覽量:1896

    變壓器工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定儀: 主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。于電橋內(nèi)附有一個2500KV的高壓電源及一臺高壓標準電容器,并將副橋和檢流計與高壓電橋有機的結合在一起,特別適應測量各類絕緣油和絕緣材料的介損(tgδ)及介電常數(shù)(ε)。電容器薄膜工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀
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  • 華測絕緣材料耐電弧試驗儀
    華測絕緣材料耐電弧試驗儀

    更新時間:2024-12-31

    型號:

    瀏覽量:1850

    電器設備的絕緣物經(jīng)常要遭受從數(shù)萬安培到數(shù)毫安,連續(xù)的或間斷的大電流或小電流的電弧作用。 精度高的輸出與測量規(guī)格,保障測度的器質(zhì),適用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓下耐電弧行的測試,也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學研究等用途。華測絕緣材料耐電弧試驗儀
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  • 華測-體積小重量輕可測薄膜高阻計測試儀器
    華測-體積小重量輕可測薄膜高阻計測試儀器

    更新時間:2024-08-30

    型號:

    瀏覽量:1890

    華測-體積小重量輕可測薄膜高阻計測試儀器采用低溫漂系數(shù)極低的電阻,肖特基高壓溫壓二極管。既可測量高電阻,又可測微電流。測量精度達到 3%。同時儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點。
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  • HCRD-300化工塑料薄膜鋰離子電池隔膜用電弱點測試儀
    HCRD-300化工塑料薄膜鋰離子電池隔膜用電弱點測試儀

    更新時間:2024-12-16

    型號:HCRD-300

    瀏覽量:1579

    HCRD-300型電弱點測試儀,主要應用于新能源汽車用鋰離子電池隔膜電氣絕緣缺陷檢測。化工塑料薄膜鋰離子電池隔膜用電弱點測試儀主要用于鋰離子電池隔膜、電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點測試。該系列產(chǎn)品的主要特點是能根據(jù)薄膜的使用寬度進行電弱點的測試,測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設定,無須將膜分切成小卷,免除了許多外來因素對測試結果的影響。
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  • HCRD-300可測薄膜電弱點測試儀有阻尼裝置 新能源
    HCRD-300可測薄膜電弱點測試儀有阻尼裝置 新能源

    更新時間:2024-12-16

    型號:HCRD-300

    瀏覽量:1370

    華測常用可測薄膜電弱點絕緣材料測試儀外形為柜狀一體化設計,左側為走膜及加壓裝置,右側為控制系統(tǒng)及操作面板。走膜裝置、絕緣導向輥、速度檢測輥等構成面積檢測系統(tǒng);加壓裝置、漏電流采樣電阻等構成電弱點檢測系統(tǒng)。可測薄膜電弱點測試儀有阻尼裝置 新能源
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  • HCTZ-2S華測儀器-四探針測試儀
    HCTZ-2S華測儀器-四探針測試儀

    更新時間:2023-09-19

    型號:HCTZ-2S

    瀏覽量:1612

    HCTZ-2S華測儀器-四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結果。
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