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高低溫環(huán)境試驗設備

高低溫烘箱小型探針臺高低溫冷熱臺

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HCP650-PM華測半導體材料封裝高低溫冷熱臺

更新時間：2024-12-12

型號：HCP650-PM

瀏覽量：3942

華測半導體材料封裝高低溫冷熱臺防止高溫氧化負溫結霜，高低溫冷熱臺是一款溫度范圍-190C~600C的溫控探針臺。使用時還可對樣品氣氛進行控制。這樣既可以保證，即使在極低溫度下，腔體也不產(chǎn)生結霜影響實驗，又可以防止樣品發(fā)生氧化。
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HC9023絕緣材料電阻評價平臺測試設備/自主研發(fā)

更新時間：2024-12-12

型號：HC9023

瀏覽量：667

絕緣材料電阻評價平臺測試設備/自主研發(fā)運用平行板法設計原理測量。利用特殊的電阻測試系統(tǒng)，重復性與穩(wěn)定性好，提升了夾具的抗干擾能力，同時大大提高精確度,可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
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Huace-6 中端探針臺

更新時間：2024-12-12

型號：

瀏覽量：1449

Huace-6 中端探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動；可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用
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Huace-4S小型探針臺

更新時間：2024-12-12

型號：

瀏覽量：1298

Huace-4S小型探針臺最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測試；可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等。
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Huace-4簡易探針臺

更新時間：2024-12-12

型號：Huace-4

瀏覽量：1260

Huace-4系列簡易探針臺可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等；外形輕盈，操作方便，價格實惠；
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華測測試儀器 HCMP手動探針臺

更新時間：2024-12-12

型號：

瀏覽量：2856

華測測試儀器 HCMP手動探針臺是一款專門用于材料電學表征和測量的微型桌面型電學測量臺，主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學表征和測量，還可以在真空、氣氛環(huán)境下對材料進行電學測量評估，是實驗室測量薄膜材料電學材料常用工具，廣泛用于高校、科研、航天航空、軍工院所等領域。
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半導體參數(shù)測試儀與MM探針臺/系統(tǒng)集成

更新時間：2023-08-28

型號：

瀏覽量：3228

半導體參數(shù)測試儀與MM探針臺/系統(tǒng)集成支持二極管、三極管、MOS管等半導體器件以及材料的直流電流-電壓（I-V）測量，準靜態(tài)和中頻電容-電壓（C-V）測量，時域測量等。
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